LCR串聯(lián)和并聯(lián)的選擇使用

　LCR數(shù)字電橋操作面板都有“串聯(lián)”和“并聯(lián)”按鍵供用戶選擇，這串聯(lián)和并聯(lián)不是物理連結(jié)，而是內(nèi)在計(jì)算模式的改變，以改變計(jì)算模式得到理想的測試精度。（具體操作面板，可以參見：HPS2810B，HPS2817，HPS2816A這些型號）　　理論上電感正弦波激勵響應(yīng)電壓超前電流90度，電容電壓落后電流90度。實(shí)際測量中由于銅阻和各種損耗的存在，超前或落后都小于90度，這種損耗在測量中以副參數(shù)出現(xiàn)，電感損失角的正切值的倒數(shù)稱品質(zhì)因素Q值。同樣電容損失角的正切值稱損耗因子DF?！　CR數(shù)字電橋進(jìn)行高精度量化，要建立適當(dāng)?shù)臄?shù)學(xué)模型，經(jīng)過一些數(shù)**算，得到各種參數(shù)值。在整個(gè)過程中，把損耗的影響用電阻等效和電感或電容串并聯(lián)。見圖1所示：

圖1 損耗的影響用電阻等效和電感或電容串并聯(lián)

　對于電阻根據(jù)實(shí)際應(yīng)用，可以等效為電阻和小電感的串聯(lián)或電阻和小電容的并聯(lián)。　每種等效都可以通過數(shù)**算得到主副參數(shù)值，運(yùn)算過程中，如果中間數(shù)據(jù)保持的位數(shù)很多，上述等效運(yùn)算的主副參數(shù)值是一樣的。實(shí)際上計(jì)算機(jī)或單片機(jī)受資源的限制，只能在有限位數(shù)下運(yùn)算，一種等效得到一定的計(jì)算精度。　大阻抗器件用并聯(lián)模式計(jì)算精度高，小阻抗器件用串聯(lián)模式計(jì)算精度高，被測件的阻抗決定數(shù)字電橋串并聯(lián)的選擇。　　阻抗小于1K用串聯(lián)，1K到幾十K串并聯(lián)都可以，還是建議用串聯(lián)。阻抗大于幾百K或M的量級就用并聯(lián)模式。　　被測件是大電感（比如現(xiàn)在LCD背光電源變壓器），或小電容用并聯(lián)。　　被測件是小電感或大電容用串聯(lián)。　　特別注意的是阻抗決定串并聯(lián)模式，阻抗和測試頻率有關(guān)，電感是ωL電容是1/ωC，小電感小電容適當(dāng)提高測試頻率可以提高測量精度。實(shí)際運(yùn)用中串聯(lián)模式使用比較多。串聯(lián)并聯(lián)運(yùn)算見下面公式： 　　　　　　　　　　　　電阻和電感電阻和電容 　　電阻電容電感測量方法參考：　　電阻低于1KΩ,選擇串聯(lián)120Hz(100Hz)通常稱為直流電阻測量,選擇低頻減小交流影響,選串聯(lián)模式減小被測件等效串聯(lián)電感的影響.　　電阻大于等于1KΩ,選擇并聯(lián)120Hz(100Hz),選擇低頻減少交流影響,選擇“并聯(lián)”,是因?yàn)闇y量過程中出現(xiàn)電抗部份,等效為被測件并聯(lián)一個(gè)電容呈現(xiàn)的高電抗,用并聯(lián)模式減小這種影響,如果Q＜0.1,已存在小電容影響.　　電容小于2nF,選擇,選擇串聯(lián)1KHz,選用高的測試信號可提高測試精度,同樣能測量大于1000μF以上電容.　　電感小于2mH,用串聯(lián)1KHz,選擇高測試頻率可提高測試精度.　　電感大于200H,并聯(lián),120Hz,選擇低測試頻率可提高測試精度。　　頻率改變有更深度的用法和意義，這里不再一一贅述。

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